| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平１１−２３６３８ | ＴＦＴアレー検査方法および検査装置 |
| 特開平１１−２３６３９ | 片極間欠弧光地絡試験装置 |
| 特開平１１−２３６４０ | プリント板テスト治具圧接装置 |
| 特開平１１−２３６４１ | 携帯電話を用いた送電線故障区間標定システム |
| 特開平１１−２３６４２ | 電力ケーブルの部分放電測定方法 |
| 特開平１１−２３６４３ | 碍子急速汚損検知装置 |
| 特開平１１−２３６４４ | ＦＥＴの寄生抵抗の算出方法 |
| 特開平１１−２３６４５ | ショート監視回路 |
| 特開平１１−２３６４６ | 基板検査装置 |
| 特開平１１−２３６４７ | ＣＭＯＳ論理ＬＳＩのＩＤＤＱ測定装置および測定方法 |
| 特開平１１−２３６４８ | ＩＣ試験装置のテストヘッド |
| 特開平１１−２３６４９ | バーイン装置の基板挿入機構 |
| 特開平１１−２３６５０ | バーンインボード |
| 特開平１１−２３６５１ | バーンイン試験装置 |
| 特開平１１−２３６５２ | 半導体装置の試験方法及び半導体装置 |
| 特開平１１−２３６５３ | 電子部品接合部信頼性試験装置及び試験方法 |
| 特開平１１−２３６５４ | バーイン試験方法及び装置 |
| 特開平１１−２３６５５ | 半導体集積回路試験装置 |
| 特開平１１−２３６５６ | フリップチップＩＣの検査方法及び検査用基板 |
| 特開平１１−２３６５７ | 水平搬送式オートハンドラのＩＣの収容状態検出機構 |
| 特開平１１−２３６５８ | 制御コンピュータを用いた半導体検査装置の冷却方式 |
| 特開平１１−２３６５９ | 半導体装置のテストシステム |
| 特開平１１−２３６６０ | 集積回路のテスト容易化回路 |
| 特開平１１−２３６６１ | スキャン試験回路 |
| 特開平１１−２３６６２ | ＬＳＩ半導体装置 |
| 特開平１１−２３６６３ | マクロセルおよび信号セレクタおよびこれらマクロセルと信号セレクタを含んだ半導体集積回路 |
| 特開平１１−２３６６４ | 半導体デバイスの測定回路 |
| 特開平１１−２３６６５ | 半導体集積回路 |
| 特開平１１−２３６６６ | ジッター発生回路 |
| 特開平１１−２３６６７ | 回路装置の試験方法 |
| 特開平１１−２３６６８ | 配線不良検査回路 |
| 特開平１１−２３６６９ | 半導体集積回路 |
| 特開平１１−２３６７０ | バウンダリ・スキャン回路 |
| 特開平１１−２３６７１ | 半導体検査装置の冷却方式 |
| 特開平１１−２３６７２ | ＬＳＩのテスト方法 |
| 特開平１１−２３６７３ | 論理デバイステスト装置及び方法 |
| 特開平１１−２３６７４ | ＩＣ試験装置のタイミング発生装置 |
| 特開平１１−２３６７５ | チャネルに依存しないクロック信号を有するマルチチャネルアーキテクチャ |
| 特開平１１−２３６７６ | 二次電池の充電特性測定方法及び装置 |
| 特開平１１−２３６７７ | 電池容量検出装置 |
| 特開平１１−２３６７８ | 充電式電池の残容量確認方法及び充電式電池の残容量確認装置 |
| 特開平１１−２３６７９ | 電源装置 |
| 特開平１１−２３６８０ | 鉛蓄電池の寿命判定方法および寿命判定装置 |
| 特開平１１−２３６８１ | バッテリ残量測定装置 |
| 特開平１１−２３６８２ | 磁界センサー |
| 特開平１１−２３６８３ | ２軸フラックスゲート型磁気センサ |
| 特開平１１−２３６８４ | 電波ビーコン受信装置 |
| 特開平１１−２３６８５ | 車載ビーコン受信機と車載ナビゲーションシステム |
| 特開平１１−２３６８６ | 衛星追尾装置 |
| 特開平１１−２３６８７ | 無線方向探知機 |