| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平１１−１４６７０ | 静電超高電圧の測定方法 |
| 特開平１１−１４６７１ | 電流推定装置 |
| 特開平１１−１４６７２ | 周期性波形のスペクトル推定方法及びそのプログラム記録媒体 |
| 特開平１１−１４６７３ | 電力系統の高調波測定方法 |
| 特開平１１−１４６７４ | 電力系統の高調波測定方法 |
| 特開平１１−１４６７５ | 電力系統の高調波測定方法 |
| 特開平１１−１４６７６ | 電力系統の高調波測定方法 |
| 特開平１１−１４６７７ | 電力系統の高調波電圧推定方法 |
| 特開平１１−１４６７８ | 振動子測定治具 |
| 特開平１１−１４６７９ | 高周波電流検出装置 |
| 特開平１１−１４６８０ | 輻射ノイズ測定装置、輻射ノイズ測定方法、輻射ノイズ表示方法および輻射ノイズ検出装置 |
| 特開平１１−１４６８１ | 無線周波数信号受信システム |
| 特開平１１−１４６８２ | 電源欠相検出回路 |
| 特開平１１−１４６８３ | 水晶振動子の温度特性測定装置 |
| 特開平１１−１４６８４ | 空間電荷測定装置 |
| 特開平１１−１４６８５ | テスト回路 |
| 特開平１１−１４６８６ | 絶縁監視装置 |
| 特開平１１−１４６８７ | 絶縁監視システム |
| 特開平１１−１４６８８ | 絶縁監視装置 |
| 特開平１１−１４６８９ | 漏電遮断器の漏洩電流感度測定装置 |
| 特開平１１−１４６９０ | プリント基板検査装置のガイドピン保持機構 |
| 特開平１１−１４６９１ | センサ断線検出装置 |
| 特開平１１−１４６９２ | イオンマイグレーション測定装置 |
| 特開平１１−１４６９３ | 電気機器の部分放電測定方法および装置 |
| 特開平１１−１４６９４ | パワーモジュールにおけるワイヤボンディング部の耐久性能試験方法 |
| 特開平１１−１４６９５ | 信号極性切替え回路 |
| 特開平１１−１４６９６ | 半導体集積回路試験装置 |
| 特開平１１−１４６９７ | 温度制御式製品検査装置 |
| 特開平１１−１４６９８ | 電子部品計測装置の接触装置 |
| 特開平１１−１４６９９ | 選別用テストボード |
| 特開平１１−１４７００ | ＩＣソケットの特性試験機 |
| 特開平１１−１４７０１ | 荷電粒子線装置 |
| 特開平１１−１４７０２ | ＩＣ試験装置および方法 |
| 特開平１１−１４７０３ | 電子回路基板における不良個所特定装置 |
| 特開平１１−１４７０４ | 半導体試験装置 |
| 特開平１１−１４７０５ | プロトタイピングアダプタ |
| 特開平１１−１４７０６ | 論理シミュレーション方法 |
| 特開平１１−１４７０７ | 半導体装置 |
| 特開平１１−１４７０８ | 電子部品の特性試験方法 |
| 特開平１１−１４７０９ | 集積回路装置の試験方法 |
| 特開平１１−１４７１０ | 電子回路における不良素子検出方法および記憶媒体 |
| 特開平１１−１４７１１ | 半導体試験装置用タイミング発生器 |
| 特開平１１−１４７１２ | 論理回路のテストパタン生成装置および生成方法 |
| 特開平１１−１４７１３ | 高速データ転送制御装置 |
| 特開平１１−１４７１４ | 半導体試験装置 |
| 特開平１１−１４７１５ | 半導体集積回路装置 |
| 特開平１１−１４７１６ | モータ検査装置 |
| 特開平１１−１４７１７ | 二次電池の劣化検出方法及び容量推測方法 |
| 特開平１１−１４７１８ | 二次電池の劣化検出方法及び容量検出方法 |
| 特開平１１−１４７１９ | リチウムイオン二次電池の検査方法及び検査装置 |