| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平１１−１４５１９ | 砥石表面複写膜作成方法 |
| 特開平１１−１４５２０ | 材料試験機の負荷制御方法 |
| 特開平１１−１４５２１ | 引張り試験用具 |
| 特開平１１−１４５２２ | 温度による変形を利用した載荷装置 |
| 特開平１１−１４５２３ | 高温低サイクル疲労試験装置 |
| 特開平１１−１４５２４ | ダイヤモンド圧子 |
| 特開平１１−１４５２５ | 圧電素子保持構造 |
| 特開平１１−１４５２６ | 熱重量測定装置及び同装置における試料容器交換方法 |
| 特開平１１−１４５２７ | 密度勾配管用浸せき液および密度測定方法 |
| 特開平１１−１４５２８ | タンクに入った液体のレベルおよび密度を測定する設備および方法 |
| 特開平１１−１４５２９ | レオロジー測定方法及びその装置 |
| 特開平１１−１４５３０ | 排ガス中のＰＭ測定装置 |
| 特開平１１−１４５３１ | 緊急時の環境影響予測システム |
| 特開平１１−１４５３２ | フィルタリーク検査装置 |
| 特開平１１−１４５３３ | 微粒子形状測定装置 |
| 特開平１１−１４５３４ | パーティクルカウンタの検査方法とそれに用いる校正基準ウェハ |
| 特開平１１−１４５３５ | 環境試験装置 |
| 特開平１１−１４５３６ | 荷重負荷機構及びその方法 |
| 特開平１１−１４５３７ | オーバーフロー槽 |
| 特開平１１−１４５３８ | 濃度測定装置 |
| 特開平１１−１４５３９ | 冷却装置付分析計 |
| 特開平１１−１４５４０ | 水質計 |
| 特開平１１−１４５４１ | Ｃｒ濃度計 |
| 特開平１１−１４５４２ | 油種判別装置 |
| 特開平１１−１４５４３ | 半導体シリコン結晶中の酸素濃度評価方法及び装置 |
| 特開平１１−１４５４４ | 光波干渉測定装置 |
| 特開平１１−１４５４５ | アルカリイオンの定量方法およびモノアザ−クラウンエーテル |
| 特開平１１−１４５４６ | ガス検知装置、ガス警報装置、燃焼装置および自動車の安全装置 |
| 特開平１１−１４５４７ | 加硫済タイヤのレーザ式非破壊検査データの管理方法 |
| 特開平１１−１４５４８ | 液晶表示素子用配向膜の検査方法及び液晶表示素子の製造方法 |
| 特開平１１−１４５４９ | 基板の欠陥検査方法および検査装置 |
| 特開平１１−１４５５０ | 撮像方法及び装置 |
| 特開平１１−１４５５１ | マスク欠陥検査装置 |
| 特開平１１−１４５５２ | 検査システム及びプリント回路板の外観検査システム並びにプリント回路板の外観検査端末装置 |
| 特開平１１−１４５５３ | 視覚欠陥検査装置における欠陥サンプルデータ出力方法および装置 |
| 特開平１１−１４５５４ | 視覚欠陥検査方法および装置 |
| 特開平１１−１４５５５ | 半田付け外観検査プログラムの支援ツール |
| 特開平１１−１４５５６ | ＴＦＴ液晶パネルの検査方法及びその装置 |
| 特開平１１−１４５５７ | 硬貨認識装置 |
| 特開平１１−１４５５８ | 表面抵抗の測定方法 |
| 特開平１１−１４５５９ | 茶葉水分計測方法 |
| 特開平１１−１４５６０ | 単結晶体のオリフラ加工位置決定方法 |
| 特開平１１−１４５６１ | Ｘ線測定装置およびその方法 |
| 特開平１１−１４５６２ | Ｘ線回折顕微方法およびＸ線回折顕微装置 |
| 特開平１１−１４５６３ | Ｘ線トポグラフィック装置 |
| 特開平１１−１４５６４ | Ｘ線トポグラフィック装置 |
| 特開平１１−１４５６５ | Ｘ線トポグラフィック装置 |
| 特開平１１−１４５６６ | Ｘ線回折測定及び蛍光Ｘ線測定のためのＸ線装置 |
| 特開平１１−１４５６７ | 時分割蛍光Ｘ線干渉計測方法および時分割蛍光Ｘ線干渉計測装置 |
| 特開平１１−１４５６８ | 蛍光Ｘ線分析装置 |