| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平１０−３３２７６７ | 回路基板の欠品検査用プローブ及びそれを使用した回路基板の欠品検査装置 |
| 特開平１０−３３２７６８ | 電線探り方法および同方法の実施に使用する特定信号音供給装置 |
| 特開平１０−３３２７６９ | 検出装置 |
| 特開平１０−３３２７７０ | コネクタ検査装置 |
| 特開平１０−３３２７７１ | 部分放電測定方法 |
| 特開平１０−３３２７７２ | ＦＥＴの寄生抵抗の評価方法 |
| 特開平１０−３３２７７３ | 電界効果トランジスタの評価方法 |
| 特開平１０−３３２７７４ | 電子デバイス特性評価装置の制御装置 |
| 特開平１０−３３２７７５ | 電界効果トランジスタの寄生ソース抵抗評価方法 |
| 特開平１０−３３２７７６ | 半導体デバイスのノイズ評価装置 |
| 特開平１０−３３２７７７ | ＩＣテスタ |
| 特開平１０−３３２７７８ | 半導体装置及び半導体装置の故障解析方法 |
| 特開平１０−３３２７７９ | バーンインボード |
| 特開平１０−３３２７８０ | 半導体測定装置 |
| 特開平１０−３３２７８１ | ＩＣテスタのテストヘッド用接続台 |
| 特開平１０−３３２７８２ | ＩＣテストシステム |
| 特開平１０−３３２７８３ | 回路試験装置 |
| 特開平１０−３３２７８４ | テスト容易化回路 |
| 特開平１０−３３２７８５ | キャリブレーション回路 |
| 特開平１０−３３２７８６ | 半導体装置 |
| 特開平１０−３３２７８７ | 自動テストパターン生成装置 |
| 特開平１０−３３２７８８ | フリップフロップ回路および集積回路装置 |
| 特開平１０−３３２７８９ | 電極板の位置合わせ方法 |
| 特開平１０−３３２７９０ | 集積回路装置及びその検査方法 |
| 特開平１０−３３２７９１ | ＩＣテスタ |
| 特開平１０−３３２７９２ | 基板検査用カメラの照明装置 |
| 特開平１０−３３２７９３ | 半導体集積回路のテストボード不良検出用集積回路 |
| 特開平１０−３３２７９４ | 半導体デバイスの画像化方法 |
| 特開平１０−３３２７９５ | ＩＣ試験装置のテストパターン発生回路 |
| 特開平１０−３３２７９６ | ＩＣテスタ |
| 特開平１０−３３２７９７ | 半導体装置 |
| 特開平１０−３３２７９８ | モーターの周波数特性測定方法及び装置、モーター制御方法及び装置 |
| 特開平１０−３３２７９９ | 車両用電源良否判定装置 |
| 特開平１０−３３２８００ | ＮＭＲ試料管 |
| 特開平１０−３３２８０１ | 冷却プローブヘッドを有するＮＭＲ測定装置 |
| 特開平１０−３３２８０２ | ビーコン切替制御装置及び方法並びにビーコン切替制御プログラムを記録した記録媒体 |
| 特開平１０−３３２８０３ | ＶＩＣＳ車載光ビーコン装置のデータ出力装置 |
| 特開平１０−３３２８０４ | アンテナ追尾装置 |
| 特開平１０−３３２８０５ | アンテナ追尾装置 |
| 特開平１０−３３２８０６ | 目標運動解析装置および目標運動解析方法 |
| 特開平１０−３３２８０７ | 音源方向検出装置 |
| 特開平１０−３３２８０８ | レーダ装置 |
| 特開平１０−３３２８０９ | ＤＢＦレーダ装置 |
| 特開平１０−３３２８１０ | レーダ装置 |
| 特開平１０−３３２８１１ | レーダ装置 |
| 特開平１０−３３２８１２ | マイクロ波検出器 |
| 特開平１０−３３２８１３ | 車載用マイクロ波検出装置 |
| 特開平１０−３３２８１４ | 高速光量調整器およびそれを用いたレーザレーダ |
| 特開平１０−３３２８１５ | レーザ光利用距離・移動速度・移動方向測定装置 |
| 特開平１０−３３２８１６ | 測距装置 |