| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平６−３３１６７０ | 誘電体板の比誘電率測定方法および測定器具 |
| 特開平６−３３１６７１ | 電力歪み方向の表示方法 |
| 特開平６−３３１６７２ | 電磁波シールド性能測定方法 |
| 特開平６−３３１６７３ | ＡＥセンサの検査装置 |
| 特開平６−３３１６７４ | ソリッド・ステート・リレーの特性試験回路 |
| 特開平６−３３１６７５ | ワイプ量測定装置 |
| 特開平６−３３１６７６ | 接続情報検出回路及び接続情報検出方法 |
| 特開平６−３３１６７７ | 負荷故障診断回路 |
| 特開平６−３３１６７８ | 電子部品のリード接続を検査する方法および装置 |
| 特開平６−３３１６７９ | スイッチ回路故障検出装置 |
| 特開平６−３３１６８０ | 基板の検査装置 |
| 特開平６−３３１６８１ | 基板検査機及び基板検査方法 |
| 特開平６−３３１６８２ | 放送受信用の配線試験装置 |
| 特開平６−３３１６８３ | コンデンサ形計器用変圧器の内部部分放電検出方法 |
| 特開平６−３３１６８４ | コンデンサ形計器用変圧器の内部部分放電検出方法 |
| 特開平６−３３１６８５ | 管路気中ケーブル線路の部分放電測定方法および接続部 |
| 特開平６−３３１６８６ | 絶縁劣化監視装置 |
| 特開平６−３３１６８７ | 電力ケーブルの部分放電測定方法 |
| 特開平６−３３１６８８ | 水トリー検出方法 |
| 特開平６−３３１６８９ | コネクタフラットケ−ブル導通耐圧試験装置 |
| 特開平６−３３１６９０ | 部分放電測定方法 |
| 特開平６−３３１６９１ | 電力ケーブルおよびその接続部の部分放電測定方法 |
| 特開平６−３３１６９２ | 画質計測装置 |
| 特開平６−３３１６９３ | 半導体装置の評価試験方法 |
| 特開平６−３３１６９４ | 恒温式測定装置 |
| 特開平６−３３１６９５ | 半導体チップテスト用ソケット |
| 特開平６−３３１６９６ | スティック型コンテナ及び半導体装置の試験方法 |
| 特開平６−３３１６９７ | 集積回路モジュール |
| 特開平６−３３１６９８ | 論理回路解析システム |
| 特開平６−３３１６９９ | 回路基板検査装置 |
| 特開平６−３３１７００ | ＩＣテスターのＧＮＤバッファ回路 |
| 特開平６−３３１７０１ | 集積回路のテストパターン生成システム |
| 特開平６−３３１７０２ | 集積回路の試験装置 |
| 特開平６−３３１７０３ | 検査系列生成方法及びその装置 |
| 特開平６−３３１７０４ | 多入力ディジタル電圧判定装置 |
| 特開平６−３３１７０５ | マルチチップ半導体装置 |
| 特開平６−３３１７０６ | ＬＳＩの動作検証回路 |
| 特開平６−３３１７０７ | 論理集積回路の評価方法 |
| 特開平６−３３１７０８ | ＬＳＩ |
| 特開平６−３３１７０９ | 試験可能性を改善した回路および回路の試験可能性を改善する方法 |
| 特開平６−３３１７１０ | 実装ボード解析装置 |
| 特開平６−３３１７１１ | 非接触マルチプローブ |
| 特開平６−３３１７１２ | 光学プローブ・被測定対象間の距離制御方法および距離制御装置ならびに電気物理量測定装置 |
| 特開平６−３３１７１３ | 自動車用蓄電池の状態検出方法 |
| 特開平６−３３１７１４ | バッテリ残存容量計 |
| 特開平６−３３１７１５ | 車載バッテリの残存容量計 |
| 特開平６−３３１７１６ | 磁気センサ |
| 特開平６−３３１７１７ | 磁気計測装置 |
| 特開平６−３３１７１８ | 透磁率測定方法および透磁率測定プローブ |
| 特開平６−３３１７１９ | 永久磁石の熱特性評価方法及び装置 |