| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平６−３０８１７５ | 配線容量の測定方法 |
| 特開平６−３０８１７６ | 容量測定回路及びそれを備えたＬＣＲメ−タ |
| 特開平６−３０８１７７ | 誘電定数の測定装置及びその測定方法 |
| 特開平６−３０８１７８ | 高調波発生源特定方法 |
| 特開平６−３０８１７９ | 表面電位測定装置 |
| 特開平６−３０８１８０ | 表面電位計及び形状測定器 |
| 特開平６−３０８１８１ | 高圧部のフラッシュ検出装置 |
| 特開平６−３０８１８２ | 液晶表示素子の検査装置 |
| 特開平６−３０８１８３ | 発光ダイオードを有する回路基板の導通検査方法と、それに用いる導通検査装置 |
| 特開平６−３０８１８４ | 基板絶縁試験における浮遊電荷排出方法 |
| 特開平６−３０８１８５ | 漏電検出装置 |
| 特開平６−３０８１８６ | プリント配線板の検査装置 |
| 特開平６−３０８１８７ | 異常機器特定装置 |
| 特開平６−３０８１８８ | 部分放電発生配電線路柱装架機器の検出方法および部分放電発生配電線路柱装架機器の検出装置 |
| 特開平６−３０８１８９ | ケーブルの部分放電検出方法 |
| 特開平６−３０８１９０ | 高周波部分放電センサの設置方法 |
| 特開平６−３０８１９１ | 共振型部分放電検出装置の試験方法 |
| 特開平６−３０８１９２ | 電力ケーブルの絶縁劣化監視方法 |
| 特開平６−３０８１９３ | Ｂｉｐ−ＣＭＯＳプロセスを用いたＬＳＩのテスト回路 |
| 特開平６−３０８１９４ | ＩＣデバイス用装置 |
| 特開平６−３０８１９５ | インサーキット試験装置 |
| 特開平６−３０８１９６ | テストヘッド構造 |
| 特開平６−３０８１９７ | ＩＣ素子試験装置 |
| 特開平６−３０８１９８ | 信号発生回路 |
| 特開平６−３０８１９９ | プリント板における論理素子間接続状態の診断方法 |
| 特開平６−３０８２００ | 半導体集積回路装置 |
| 特開平６−３０８２０１ | ノイズ印加誘導装置 |
| 特開平６−３０８２０２ | 回路検査装置 |
| 特開平６−３０８２０３ | 電位測定方法および装置 |
| 特開平６−３０８２０４ | ボードテスト方式 |
| 特開平６−３０８２０５ | 断路器・接地開閉器の動作診断システム |
| 特開平６−３０８２０６ | 電池の電力残量監視方式 |
| 特開平６−３０８２０７ | 磁気センサ |
| 特開平６−３０８２０８ | 光応用装置及び偏光子の角度設定方法 |
| 特開平６−３０８２０９ | ＤＣ−ＳＱＵＩＤ |
| 特開平６−３０８２１０ | ＳＱＵＩＤ駆動回路 |
| 特開平６−３０８２１１ | 磁化測定装置 |
| 特開平６−３０８２１２ | 複数のアンテナを用いた到来電波方位計測方法 |
| 特開平６−３０８２１３ | 測位システム |
| 特開平６−３０８２１４ | 位置測定用受信装置 |
| 特開平６−３０８２１５ | 車載用航法装置 |
| 特開平６−３０８２１６ | 移動体用航法装置 |
| 特開平６−３０８２１７ | ＧＰＳ装置 |
| 特開平６−３０８２１８ | ＧＰＳ受信装置 |
| 特開平６−３０８２１９ | 車両位置測定装置 |
| 特開平６−３０８２２０ | レーダにおけるアンテナパターンのビーム圧縮処理方法 |
| 特開平６−３０８２２１ | 障害物検出装置に適用される表示装置 |
| 特開平６−３０８２２２ | ＰＰＩ表示装置 |
| 特開平６−３０８２２３ | パルス検出回路 |
| 特開平６−３０８２２４ | 目標分離装置 |