| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平５−２８１２７４ | ３次元妨害波源探知装置 |
| 特開平５−２８１２７５ | 接触静電電圧検出を可能にする合成物 |
| 特開平５−２８１２７６ | 液中静電力検出装置 |
| 特開平５−２８１２７７ | トナーの比電荷分布測定方法 |
| 特開平５−２８１２７８ | 情報処理システム |
| 特開平５−２８１２７９ | 基板検査装置 |
| 特開平５−２８１２８０ | 架空線の素線断線検出方法 |
| 特開平５−２８１２８１ | 超電導磁気浮上式鉄道の地上コイルの異常検出装置 |
| 特開平５−２８１２８２ | 故障点標定装置の高周波インパルス発生回路 |
| 特開平５−２８１２８３ | 電気機器の部分放電検出装置 |
| 特開平５−２８１２８４ | 電力ケーブル線路の活線部分放電測定法 |
| 特開平５−２８１２８５ | 雑音除去回路 |
| 特開平５−２８１２８６ | 碍子の不良検出装置 |
| 特開平５−２８１２８７ | 層間耐電圧試験装置 |
| 特開平５−２８１２８８ | テスト回路 |
| 特開平５−２８１２８９ | 半導体集積回路自動選別装置 |
| 特開平５−２８１２９０ | 記憶回路を共用するＩＣテスタのデータ転送回路 |
| 特開平５−２８１２９１ | 電子回路の劣化診断方法および装置とそのための異常波形検出方法および装置 |
| 特開平５−２８１２９２ | ＡＤ回路を使用するＩＣテスタ |
| 特開平５−２８１２９３ | 集積回路シミュレーション方法 |
| 特開平５−２８１２９４ | ハードウェア網羅率測定回路 |
| 特開平５−２８１２９５ | テスト容易化回路及び回路のテスト方法 |
| 特開平５−２８１２９６ | 半導体試験装置のテスト・ヘッド |
| 特開平５−２８１２９７ | 半導体装置のテスト方法 |
| 特開平５−２８１２９８ | ２重化されたクロック発生装置 |
| 特開平５−２８１２９９ | アドレスパターン発生器 |
| 特開平５−２８１３００ | 波形発生装置 |
| 特開平５−２８１３０１ | オフセット電圧を加減算するＩＣテスタ |
| 特開平５−２８１３０２ | テスト回路 |
| 特開平５−２８１３０３ | 半導体集積回路 |
| 特開平５−２８１３０４ | テスト回路を内蔵したアナログ・ディジタル混在マスタ |
| 特開平５−２８１３０５ | シフトパスデータ書き込み方式 |
| 特開平５−２８１３０６ | 回路試験用電界センサー |
| 特開平５−２８１３０７ | 半導体回路 |
| 特開平５−２８１３０８ | 論理集積回路 |
| 特開平５−２８１３０９ | 鉛蓄電池の劣化判定方法及び劣化判定器 |
| 特開平５−２８１３１０ | 鉛蓄電池の劣化状態検知方法及び劣化状態検知器 |
| 特開平５−２８１３１１ | 周囲温度補償機能付きバッテリー電力残量表示装置 |
| 特開平５−２８１３１２ | 磁気計測方法及び装置 |
| 特開平５−２８１３１３ | 磁界検出装置 |
| 特開平５−２８１３１４ | 超電導磁気シールド装置及びそれを用いた超電導磁気計測装置 |
| 特開平５−２８１３１５ | 横型ＳＱＵＩＤ装置 |
| 特開平５−２８１３１６ | 超電導磁気センサおよびその製造方法 |
| 特開平５−２８１３１７ | 人工粒界−近接効果型ＳＱＵＩＤ素子 |
| 特開平５−２８１３１８ | 磁気センサー |
| 特開平５−２８１３１９ | 磁気センサ |
| 特開平５−２８１３２０ | 角度センサ |
| 特開平５−２８１３２１ | 磁歪測定装置及び磁歪測定方法 |
| 特開平５−２８１３２２ | 指向性アンテナ制御装置 |
| 特開平５−２８１３２３ | 飛しょう体用誘導装置 |