| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平５−２７３２８２ | 可変磁器コンデンサの検査装置 |
| 特開平５−２７３２８３ | 共通試験制御方式 |
| 特開平５−２７３２８４ | 液晶表示装置の抵抗欠陥集計データシステム |
| 特開平５−２７３２８５ | 部分放電測定器のサージ保護装置 |
| 特開平５−２７３２８６ | プリント配線板の電気検査用アダプターボードおよびそれを用いた電気検査方法 |
| 特開平５−２７３２８７ | 電池用地絡検出方法及びその装置 |
| 特開平５−２７３２８８ | プリント基板検査方法および検査装置 |
| 特開平５−２７３２８９ | 摺動抵抗式リニア特性センサ |
| 特開平５−２７３２９０ | 高圧交流回路遮断器の短絡試験用合成試験回路及びそのような回路に用いるトリガー火花間隙 |
| 特開平５−２７３２９１ | 同期した繰り返し信号の発生装置 |
| 特開平５−２７３２９２ | ＣＶケーブル用プレハブ型接続部およびその部分放電測定方法 |
| 特開平５−２７３２９３ | 電力ケーブルの絶縁劣化診断法 |
| 特開平５−２７３２９４ | 懸垂型避雷碍子の不良検出装置 |
| 特開平５−２７３２９５ | 懸垂型避雷碍子の不良検出装置 |
| 特開平５−２７３２９６ | 半導体デバイス特性の評価装置及びその評価方法 |
| 特開平５−２７３２９７ | 駆動素子効率検出補正回路 |
| 特開平５−２７３２９８ | 半導体集積回路装置及びそのテスト方法 |
| 特開平５−２７３２９９ | 回路検査方法 |
| 特開平５−２７３３００ | 検査アダプタ |
| 特開平５−２７３３０１ | 電子部品の測定治具 |
| 特開平５−２７３３０２ | 半導体集積回路自動選別装置 |
| 特開平５−２７３３０３ | データトレース方法 |
| 特開平５−２７３３０４ | モジュール試験システム |
| 特開平５−２７３３０５ | 実装基板検査装置 |
| 特開平５−２７３３０６ | ＬＳＩテスタ |
| 特開平５−２７３３０７ | 集積回路装置及びその検査方法 |
| 特開平５−２７３３０８ | ＩＣ試験装置のタイミング発生装置 |
| 特開平５−２７３３０９ | テストパタン生成方式 |
| 特開平５−２７３３１０ | 検査系列生成装置 |
| 特開平５−２７３３１１ | 論理集積回路 |
| 特開平５−２７３３１２ | 半導体論理集積回路 |
| 特開平５−２７３３１３ | テスト回路形成方法 |
| 特開平５−２７３３１４ | 半導体論理集積回路 |
| 特開平５−２７３３１５ | 半導体試験方法および装置 |
| 特開平５−２７３３１６ | ＮｉＣｄ電池の残量計 |
| 特開平５−２７３３１７ | 細線位置決め装置 |
| 特開平５−２７３３１８ | 磁場測定装置 |
| 特開平５−２７３３１９ | 地磁気検出型方位センサ |
| 特開平５−２７３３２０ | 磁気センサ |
| 特開平５−２７３３２１ | 電流センサ |
| 特開平５−２７３３２２ | 磁気光学式欠陥検出方法 |
| 特開平５−２７３３２３ | 磁石装置 |
| 特開平５−２７３３２４ | 容量型センサを評価しかつテストするための回路装置 |
| 特開平５−２７３３２５ | アンテナ受信方式 |
| 特開平５−２７３３２６ | ソーナー受信装置 |
| 特開平５−２７３３２７ | ＧＰＳ受信機におけるサーチ帯域幅の設定方法 |
| 特開平５−２７３３２８ | ＧＰＳ測位装置 |
| 特開平５−２７３３２９ | 位置検知装置 |
| 特開平５−２７３３３０ | 軌道区間の実測位置の偏位を測定するための方法 |
| 特開平５−２７３３３１ | 目標検出装置 |