| 公開番号 | 発明の名称 |
| 特開平５−２４９１８１ | ＩＣソケット |
| 特開平５−２４９１８２ | 半導体チップソケット |
| 特開平５−２４９１８３ | 半導体論理集積回路 |
| 特開平５−２４９１８４ | ハードウェアシミュレータ |
| 特開平５−２４９１８５ | 半導体集積回路装置のテスト回路 |
| 特開平５−２４９１８６ | 論理回路テスト装置及び論理回路テスト方法 |
| 特開平５−２４９１８７ | 検査装置 |
| 特開平５−２４９１８８ | 半導体集積回路のテスト方法及びテスト回路 |
| 特開平５−２４９１８９ | トーンバースト信号発生装置 |
| 特開平５−２４９１９０ | ＬＳＩ用テスタ |
| 特開平５−２４９１９１ | 集積回路検査装置 |
| 特開平５−２４９１９２ | 半導体集積回路試験装置 |
| 特開平５−２４９１９３ | 半導体集積回路 |
| 特開平５−２４９１９４ | レジスタ一括ライト方式の論理ＬＳＩ |
| 特開平５−２４９１９５ | 半導体装置 |
| 特開平５−２４９１９６ | 半導体記憶装置 |
| 特開平５−２４９１９７ | 組込み自己試験回路 |
| 特開平５−２４９１９８ | 集積回路のテスト装置 |
| 特開平５−２４９１９９ | 不揮発性半導体記憶装置の構造及びその評価方法 |
| 特開平５−２４９２００ | 耐雷試験器 |
| 特開平５−２４９２０１ | 電子部品内の電気信号サンプリング方法及び装置 |
| 特開平５−２４９２０２ | 半導体試験装置 |
| 特開平５−２４９２０３ | 論理検証方法 |
| 特開平５−２４９２０４ | 回路における相互接続障害の診断方法及び装置 |
| 特開平５−２４９２０５ | 高圧遮断器の三相合成試験におけるアーク延長方法 |
| 特開平５−２４９２０６ | 多相交流回路における電磁場解析法 |
| 特開平５−２４９２０７ | 光センサ |
| 特開平５−２４９２０８ | ＳＱＵＩＤ磁束計出力の雑音除去方法及びその装置 |
| 特開平５−２４９２０９ | 走査型顕微鏡 |
| 特開平５−２４９２１０ | 磁気センサ |
| 特開平５−２４９２１１ | 磁気センサ |
| 特開平５−２４９２１２ | 透磁率の測定方法及び透磁率測定装置 |
| 特開平５−２４９２１３ | 超伝導材料用の非破壊評価装置および方法 |
| 特開平５−２４９２１４ | ＮＭＲサンプルシェーパー |
| 特開平５−２４９２１５ | ループギャップ共振器 |
| 特開平５−２４９２１６ | データリンクシステム |
| 特開平５−２４９２１７ | 受信装置のアンテナ追尾制御装置 |
| 特開平５−２４９２１８ | 高感度赤外線検出器及び赤外線カメラ |
| 特開平５−２４９２１９ | 電話自動転送エリア拡大方式 |
| 特開平５−２４９２２０ | 無線通信装置 |
| 特開平５−２４９２２１ | ＧＰＳ位置検出装置 |
| 特開平５−２４９２２２ | ＧＰＳ航法装置 |
| 特開平５−２４９２２３ | ＧＰＳ航法装置 |
| 特開平５−２４９２２４ | 測距方法および装置 |
| 特開平５−２４９２２５ | スプリアス周波数抑制器 |
| 特開平５−２４９２２６ | 送信電力制御式管制システム |
| 特開平５−２４９２２７ | レーダ用クラッタ信号抑圧装置 |
| 特開平５−２４９２２８ | 水中探知伝送システム |
| 特開平５−２４９２２９ | 水中探知装置 |
| 特開平５−２４９２３０ | 目標識別装置 |